Atomic-layer resolved structure of ultra-thin films studied by X-ray CTR scattering
Atomic-layer resolved structure of ultra-thin films studied by X-ray CTR scattering
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通过 X 射线 CTR 散射研究超薄膜的原子层分辨结构
DOI：
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发表时间：
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期刊：
影响因子：
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通讯作者：
高橋 敏男
中科院分区：
文献类型：
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作者：
W. S. Choi;H. Ohta;and H. N. Lee;高橋 敏男
