Crystallographic subsurface damages observations using super-resolution Raman tomographic imagingin advanced semiconductor and ceramics materials
Crystallographic subsurface damages observations using super-resolution Raman tomographic imagingin advanced semiconductor and ceramics materials
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使用超分辨率拉曼断层成像对先进半导体和陶瓷材料中的晶体地下损伤进行观测
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Teppei Onuki
中科院分区：
文献类型：
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作者：
福地 里菜;伊藤 久敏;山口 飛鳥;木村 学;Teppei Onuki
