Line profile measurement of surface Hall potentials on Si samples

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硅样品表面霍尔电势的线轮廓测量

DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
PROGRAM and ABSTRACTS of Second International Symposium on Standard Materials And Metrology for Nanotechnology
影响因子：
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通讯作者：
Kenta Arima
Kenta Arima
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
Yuji Hidaka;Kenji Hiwa;Mizuho Morita;Kenta Arima

文献摘要

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