EELS計測におけるCCDと電子直接検出CMOSカメラの検出限界の比較
EELS計測におけるCCDと電子直接検出CMOSカメラの検出限界の比較
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EELS 测量中 CCD 和电子直接检测 CMOS 相机的检测限比较
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
治田 充貴,吉川 純,木本 浩司,倉田 博基
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Acharya;T. Chujo et al. (ALICE Collaboration);治田 充貴,吉川 純,木本 浩司,倉田 博基
