多重スキャンツリー設計によるテストデータ量・テスト印加時間の削減
多重スキャンツリー設計によるテストデータ量・テスト印加時間の削減
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通过多重扫描树设计减少测试数据量和测试应用时间
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
宮瀬 紘平
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Hironori Washizaki;Yoshiaki Fukazawa;R.S.Bhuvaneswaran;市川周一;宮瀬 紘平
