Observation of silicon surface nanoholes by scanning tunneling microscopy
Observation of silicon surface nanoholes by scanning tunneling microscopy
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扫描隧道显微镜观察硅表面纳米孔
DOI：
10.1016/s0039-6028(01)01264-x
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发表时间：
2001
期刊：
影响因子：
1.9
通讯作者：
S. Takeda
中科院分区：
文献类型：
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作者：
N. Ozaki;Y. Ohno;M. Tanbara;D. Hamada;J. Yamasaki;S. Takeda
