A depth-dependent stability estimate in an electrical impedance tomography
A depth-dependent stability estimate in an electrical impedance tomography
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电阻抗断层扫描中与深度相关的稳定性估计
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
永安聖・G Uhlmann・J.-N.Wang
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Tomohiro Aoki;Masaki Nishimura;Toshiyuki Matsuoka;Kimiko Yamamoto;Tomoyuki Furuyashiki;Hiroharu Kataoka;Shiho Kitaoka;Ryota Ishibashi;Akihiro Ishibazawa;Susumu Miyamoto;Ryuichi Morishita;Joji Ando;Nobuo Hashimoto;Kazuhiko Nozaki;Shuh Narumiy;青木友浩;青木友浩;青木友浩;青木友浩;青木友浩;青木友浩;青木友浩;永安聖・G Uhlmann・J.-N.wang;永安聖・和田出秀光;永安聖・G Uhlmann・J.-N.Wang;J.Fan・K.Kim・永安聖・中村玄;J.Fan・K.Kim・永安聖・中村玄;J.Fan・K.Kim・永安聖・中村玄;J.Fan・K.Kim・永安聖・中村玄;永安聖・和田出秀光;K.Kim・永安聖・中村玄;永安聖・G Uhlmann・J.-N.Wang;永安聖・G Uhlmann・J.-N.Wang;永安聖・G Uhlmann・J.-N.Wang;永安聖・G Uhlmann・J.-N.Wang
