Local Characterization of Electronic Transport in Microcrystalline Germanium Thin Films by Atomic Force Microscopy Using a Conducting Probe
Local Characterization of Electronic Transport in Microcrystalline Germanium Thin Films by Atomic Force Microscopy Using a Conducting Probe
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使用导电探针通过原子力显微镜对微晶锗薄膜中的电子传输进行局部表征
DOI：
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发表时间：
2003
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
S.Miyazaki
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K.Makihara;Y.Okamoto;H.Nakagawa;M.Ikeda;H.Murakami;S.Miyazaki
