A survey of the geometrical reconstruction of [011] defects in semiconductors: Grain boundaries and dislocations
A survey of the geometrical reconstruction of [011] defects in semiconductors: Grain boundaries and dislocations
复制标题
半导体中[011]缺陷的几何重构调查：晶界和位错
DOI：
10.1016/0036-9748(85)90100-0
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发表时间：
1985
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M. Petit
中科院分区：
文献类型：
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作者：
A. Papon;M. Petit
