Influence of Si Cantilever Tip with/without tungsten coating on NC-AFM Imaging of Ge(001)Surface

Influence of Si Cantilever Tip with/without tungsten coating on NC-AFM Imaging of Ge(001)Surface
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带/不带钨涂层的Si悬臂尖端对Ge(001)表面NC-AFM成像的影响

DOI:
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发表时间:
2009
期刊:
Nanotechnology (In press)
影响因子:
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通讯作者:
and Y. Sugawara
and Y. Sugawara
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
Y. Naitoh;Y. Kinoshita;Y. J. Li;M. Kageshima;and Y. Sugawara

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