T.Sawada, Y.Ito, Y.Izumi, N.Kimura, K.Imai, K.Suzuki: "Characterization of Metal/p-GaN Schottky Interfaces by I-V-T Measurements"Abstracts of 43rd Electronic Materials Conference. 18-19 (2001)
T.Sawada, Y.Ito, Y.Izumi, N.Kimura, K.Imai, K.Suzuki: "Characterization of Metal/p-GaN Schottky Interfaces by I-V-T Measurements"Abstracts of 43rd Electronic Materials Conference. 18-19 (2001)
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T.Sawada、Y.Ito、Y.Izumi、N.Kimura、K.Imai、K.Suzuki：“通过 I-V-T 测量表征金属/p-GaN 肖特基界面”第 43 届电子材料会议摘要。
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