Electronic potential of lateral nanoscale Si pn junctions observed by KFM technique
Electronic potential of lateral nanoscale Si pn junctions observed by KFM technique
复制标题
KFM技术观察横向纳米级Si pn结的电子势
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
R. Nowak
中科院分区：
文献类型：
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作者：
湯川博喜;廣瀬浩次;吉村武;芦田淳;藤村紀文;R. Nowak
