XANAM measurements on Ge surfaces for surface chemical imaging

XANAM measurements on Ge surfaces for surface chemical imaging
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用于表面化学成像的 Ge 表面 XANAM 测量

DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
Proceedings of 12th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '19 (ALC'19)
影响因子：
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通讯作者：
K. Asakura
K. Asakura
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
S. Suzuki;S. Mukai;W.J. Chun;M. Nomura;S. Fujimori;M. Ikeda;K. Makihara;S. Miyazaki;K. Asakura

文献摘要

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