SiGe/SiヘテロMOSFETにおけるホットキャリアによるヘテロ界面準位の発生
SiGe/SiヘテロMOSFETにおけるホットキャリアによるヘテロ界面準位の発生
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SiGe/Si 异质 MOSFET 中热载流子产生异质界面态
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
室田淳一
中科院分区：
文献类型：
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作者：
土屋敏章;櫻庭政夫;室田淳一
