Co2FeSi0.5Al0.5/n+-Geショットキートンネル接合を用いたn-Ge中の室温スピン伝導検出
Co2FeSi0.5Al0.5/n+-Geショットキートンネル接合を用いたn-Ge中の室温スピン伝導検出
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使用 Co2FeSi0.5Al0.5/n+-Ge 肖特基隧道结进行 n-Ge 室温自旋传导检测
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
藤田裕一，岡孝保，山田晋也，山田道洋，澤野憲太郎，金島岳，浜屋宏平
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y. Fujita;T. Oka;Y. Nagatomi;K. Yamamoto;M. Yamada;K. Sawano;S. Yamada;T. Kanashima;H. Nakashima;and K. Hamaya;岡孝保，藤田裕一，山田道洋，澤野憲太郎，山田晋也，金島岳，浜屋宏平;山田晋也，藤田裕一，岡孝保，沖宗一郎，酒井宗一朗，金島岳，浜屋宏平;藤田裕一，岡孝保，山田晋也，山田道洋，澤野憲太郎，金島岳，浜屋宏平
