Backscattering X-ray Tomography Technique for One-Sided Nondestructive Inspection
Backscattering X-ray Tomography Technique for One-Sided Nondestructive Inspection
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用于单面无损检测的后向散射X射线断层扫描技术
DOI：
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发表时间：
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期刊：
影响因子：
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通讯作者：
A. Uritani
中科院分区：
文献类型：
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作者：
J. Yoshioda;A. Yamazaki ;K. Watanabe;A. Uritani
