Nano-Scale Tensile Testing and Sample Preparation Techniques for Silicon Nanowires
Nano-Scale Tensile Testing and Sample Preparation Techniques for Silicon Nanowires
复制标题
硅纳米线的纳米级拉伸测试和样品制备技术
DOI：
10.7567/jjap.52.110118
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T. Namazu
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Fujii;K. Sudoh;S. Sakakihara;M. Naito;S. Inoue;T. Namazu
