基于边界扫描技术的SOC数字电路可测性设计
基于边界扫描技术的SOC数字电路可测性设计
复制标题
DOI：
--
复制
发表时间：
--
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
陈圣俭
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
王蒙蒙;周银;刘荣昌;陈圣俭
