Near edge X-ray absorption fine structure measurements of DLC and a-SiC_x : H films
Near edge X-ray absorption fine structure measurements of DLC and a-SiC_x : H films
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DLC 和 a-SiC_x: H 薄膜的近边 X 射线吸收精细结构测量
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Haruhiko Ito
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Akira Wada;Takeshi Ogaki;Tomoyuki Yasukawa;Fumio Mizutani;Masahito Tagawa;Tsuneo Suzuki;Masahito Niibe;Hidetoshi Saitoh;Kazuhiro Kanda;Haruhiko Ito
