M.Takagi: "Testability of Pin Open in Small Outline Package ICs by Supply Current Testing"Proc.of 2003 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications. 836-839 (2003)
M.Takagi: "Testability of Pin Open in Small Outline Package ICs by Supply Current Testing"Proc.of 2003 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications. 836-839 (2003)
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M.Takagi：“通过电源电流测试对小型封装 IC 中引脚开路的可测试性”2003 年电路/系统、计算机和通信国际技术会议的会议记录。
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