Local strain evaluation of single crystal Si pillar by micro Raman spect roscopy and photoluminescence
Local strain evaluation of single crystal Si pillar by micro Raman spect roscopy and photoluminescence
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利用显微拉曼光谱和光致发光评估单晶硅柱的局部应变
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
et al.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
D. Wang;et al.
