Wavelength-scanning interferometry using backpropagation of optical fields for shape measurement of thin plate
Wavelength-scanning interferometry using backpropagation of optical fields for shape measurement of thin plate
复制标题
利用光场反向传播的波长扫描干涉测量薄板形状
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and T. Suzuki
中科院分区：
文献类型：
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作者：
O. Sasaki;Hirot Ashitate;and T. Suzuki
