Si(001)surface layer-by-layer oxidation studied by real-time photoelectron spectroscopy using synchrotron radiation
Si(001)surface layer-by-layer oxidation studied by real-time photoelectron spectroscopy using synchrotron radiation
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使用同步辐射的实时光电子能谱研究Si(001)表面逐层氧化
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
S. Ogawa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H.Nanjo;Y.Yao;Z.Xia;M.Nishioka;Y.Hiejima;M.Kanakubo;S. Ogawa
