Novel yield model for integrated circuits with clustered defects
Novel yield model for integrated circuits with clustered defects
复制标题
具有簇状缺陷的集成电路的新颖良率模型
DOI：
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发表时间：
2008
影响因子：
8.5
通讯作者：
Li
中科院分区：
文献类型：
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作者：
L. Tong;Li
