Millimeter wave imaging technologies
Millimeter wave imaging technologies
复制标题
毫米波成像技术
DOI：
10.1109/issse.1998.738084
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发表时间：
1998
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K. Mizuno
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. Mizuno
使用毫米波 (MM) 的成像技术为许多应用领域提供了独特的测量方法。我们讨论分辨率受衍射限制的毫米波焦平面成像技术，以及分辨率远小于工作波长的毫米波扫描近场显微镜。介绍并讨论了作者对这两个方面的研究。
Imaging technologies using millimeter (MM) waves offer a unique means of measurement in many application areas. We discuss MM-wave focal plane imaging technologies whose resolution is limited by diffraction and also MM-wave scanning near-field microscopy whose resolution is much smaller than the operating wavelength. The author's research on both of these are introduced and discussed.