ナノプローブ電圧測定による金属/半導体の検出
ナノプローブ電圧測定による金属/半導体の検出
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通过纳米探针电压测量检测金属/半导体
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
渡邉浩平,岩間三典,佐久間洋志,石井清
中科院分区：
文献类型：
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作者：
石井宏幸;植村隆文;竹谷純一;小林伸彦;渡邉浩平,岩間三典,佐久間洋志,石井清
