On-Wafer Measurement of Pseudo Differential Transmission Line for Global Interconnect in Si LSI,
On-Wafer Measurement of Pseudo Differential Transmission Line for Global Interconnect in Si LSI,
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用于 Si LSI 中全局互连的伪差分传输线的晶圆上测量，
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and K. Masu
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H. Sugita;H. Ito;S. Gomi;K. Okada;and K. Masu
