Charged-droplet beam source using vacuum electrospray of an ionic liquid for secondary ion mass spectrometry (SIMS)
Charged-droplet beam source using vacuum electrospray of an ionic liquid for secondary ion mass spectrometry (SIMS)
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使用离子液体真空电喷雾进行二次离子质谱 (SIMS) 的带电液滴束源
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
藤原幸雄
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yukio Fujiwara;Naoaki Saito;Hidehiko Nonaka;Shingo Ichimura;藤原幸雄
