Observation of bit boundary in ion irradiation planer patterned CrPt3 using dark-field transmission electron microscope
Observation of bit boundary in ion irradiation planer patterned CrPt3 using dark-field transmission electron microscope
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暗场透射电子显微镜观察离子辐照平面图案CrPt3中的位边界
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
S. Iwata
中科院分区：
文献类型：
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作者：
D. Oshima;E. Suharyadi;T. Kato;S. Iwata
