Tip-to-sample distance dependence of an electrostatic force in KFM measurements.
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DOI：
10.1016/j.ultramic.2004.01.017
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发表时间：
2004-08
期刊：
影响因子：
2.2
通讯作者：
Takuji Takahashi;Shiano Ono
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Takuji Takahashi;Shiano Ono
