Surface potential measurements using the Kelvin probe force microscope
Surface potential measurements using the Kelvin probe force microscope
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使用开尔文探针力显微镜测量表面电位
DOI：
10.1016/0040-6090(95)06772-8
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发表时间：
1996
期刊：
影响因子：
2.1
通讯作者：
M. Fujihira
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M. Yasutake;D. Aoki;M. Fujihira
