First experiments of selected area nano-diffraction from semiconductor interfaces using a spherical aberration corrected TEM
First experiments of selected area nano-diffraction from semiconductor interfaces using a spherical aberration corrected TEM
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使用球差校正 TEM 进行半导体界面选区纳米衍射的首次实验
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
N.Tanaka
中科院分区：
文献类型：
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作者：
J.Yamasaki;H.Sawada;N.Tanaka
