Enhancing the Resolution of Millimeter-Wave Microscopy Using a Metal Slit-Type Probe
Enhancing the Resolution of Millimeter-Wave Microscopy Using a Metal Slit-Type Probe
复制标题
使用金属狭缝型探头提高毫米波显微镜的分辨率
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T.Nozokido
中科院分区：
文献类型：
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作者：
N.Miyasaka;T.Nozokido
