Satoru Fujisawa, Tokushi Kizuka: "Effect of lateral displacement of atomic force microscope tip caused by contact scanning by in-situ transmission electron microscopy"Jpn.J.Appl.Phys.. 42. L1182-L1184 (2003)
Satoru Fujisawa, Tokushi Kizuka: "Effect of lateral displacement of atomic force microscope tip caused by contact scanning by in-situ transmission electron microscopy"Jpn.J.Appl.Phys.. 42. L1182-L1184 (2003)
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Satoru Fujisawa、Tokushi Kizuka：“原位透射电子显微镜接触扫描引起的原子力显微镜尖端横向位移的影响”Jpn.J.Appl.Phys.. 42. L1182-L1184 (2003)
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