Secondary ion mass spectrometer analyses for trace elements in glass standards using variably charged silicon ions for normalization
Secondary ion mass spectrometer analyses for trace elements in glass standards using variably charged silicon ions for normalization
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使用带可变电荷的硅离子进行归一化，二次离子质谱仪分析玻璃标准品中的痕量元素
DOI：
10.2138/am-2022-8362
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发表时间：
2023
影响因子：
3.1
通讯作者：
Hervig, Richard L.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Carlson, Eric N.;Hervig, Richard L.
