Projectively flat Finsler metrics with orthogonal invariance
Projectively flat Finsler metrics with orthogonal invariance
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DOI：
10.4064/ap107-3-3
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发表时间：
2013
影响因子：
0.5
通讯作者：
Libing Huang;X. Mo
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Libing Huang;X. Mo
研究了具有正交不变性的Finsler度量。通过确定这些芬斯勒度量的表达式，我们发现这些度量是局部射影平坦的PDE等价。在调查这个偏微分方程，我们制造的投影平坦芬斯勒度量与正交不变性的误差函数。
We study Finsler metrics with orthogonal invariance. By determining an expression of these Finsler metrics we find a PDE equivalent to these metrics being locally projectively flat. After investigating this PDE we manufacture projectively flat Finsler metrics with orthogonal invariance in terms of error functions.