High-Resolution X-Ray Reciprocal Space Mapping of Low-Temperature-Grown In0.45Ga0.55As on InP substrate
High-Resolution X-Ray Reciprocal Space Mapping of Low-Temperature-Grown In0.45Ga0.55As on InP substrate
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InP 衬底上低温生长 In0.45Ga0.55As 的高分辨率 X 射线倒易空间测绘
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Yoriko Tominaga and Yutaka Kadoya
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yoriko Tominaga;Yutaka Kadoya;and Hitoshi Morioka;富永依里子，角屋豊;Yoriko Tominaga and Yutaka Kadoya;Yoriko Tominaga and Yutaka Kadoya;Yoriko Tominaga and Yutaka Kadoya
