T.Yodo: ""Anisotropic Strain Estimated from Lattice Parameters Measured by Bond Method Using X-Ray Diffraction in Molecular Beam Epitaxy-grown GaAs/Si (001)"" Jpn.J.Appl.Phys.Vol.37, No.2. 450-454 (1998)
T.Yodo: ""Anisotropic Strain Estimated from Lattice Parameters Measured by Bond Method Using X-Ray Diffraction in Molecular Beam Epitaxy-grown GaAs/Si (001)"" Jpn.J.Appl.Phys.Vol.37, No.2. 450-454 (1998)
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T.Yodo：“在分子束外延生长的 GaAs/Si (001) 中使用 X 射线衍射通过键合法测量的晶格参数估计各向异性应变”Jpn.J.Appl.Phys.Vol.37，No.2
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