A Unit Root Test for Micro Panels with Serially Correlated Errors
A Unit Root Test for Micro Panels with Serially Correlated Errors
复制标题
具有序列相关误差的微型面板的单位根检验
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Kazuhiko Hayakawa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Bassino;Jean-Pascal;Kyoji Fukao and Tokihiko Settsu;Kazuhiko Hayakawa and Shuichi Nagata;石塚迅;Kazuhiko Hayakawa
