Y.Ju(M.Saka, T.Hiroshima): "Nondestructive Detection of Small Cracks in Polycrystalline Sillicon Substrates Using Millimeter Waves"Proc. 6th Far-East Conf. on Nondestructive Testing(FENDT '02). pp.535-539 (2002)
Y.Ju(M.Saka, T.Hiroshima): "Nondestructive Detection of Small Cracks in Polycrystalline Sillicon Substrates Using Millimeter Waves"Proc. 6th Far-East Conf. on Nondestructive Testing(FENDT '02). pp.535-539 (2002)
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Y.Ju（M.Saka，T.Hiroshima）：“使用毫米波对多晶硅基板中的小裂纹进行无损检测”Proc。
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