Failure analysis of electric circuit board by high resolution magnetic field microscopy
Failure analysis of electric circuit board by high resolution magnetic field microscopy
复制标题
高分辨率磁场显微镜对电路板失效分析
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K. Kimura
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y. Mima;N. Oyabu;T. Inao;N. Kimura;K. Kimura
