走査型イオン伝導顕微鏡イメージングにおける複数開口ナノピペットを用いた試料表面帯電の影響低減
走査型イオン伝導顕微鏡イメージングにおける複数開口ナノピペットを用いた試料表面帯電の影響低減
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在扫描离子传导显微镜成像中使用多孔纳米移液器减少样品表面充电的影响
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
白澤 樹，江口 由祐，水谷 祐輔，牛木 辰男，岩田 太
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M. Yoshioka;F. Iwata;吉岡 正義，岩田 太;吉岡 正義，岩田 太;吉岡 正義，岩田 太;白澤 樹，江口 由祐，水谷 祐輔，牛木 辰男，岩田 太
