Nobuyuki Sano et al.: "Influence of Thermal Noise on Drain Current in Very Small Si-MOSFET's"Japanese Journal of Applied Physics. April. (2000)
Nobuyuki Sano et al.: "Influence of Thermal Noise on Drain Current in Very Small Si-MOSFET's"Japanese Journal of Applied Physics. April. (2000)
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Nobuyuki Sano 等人：“热噪声对超小型 Si-MOSFET 漏极电流的影响”日本应用物理学杂志。
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