Development and application of high-resolution diffraction microscopy using synchrotron x-ray beam focused Kirkpatrick-Baez mirrors
Development and application of high-resolution diffraction microscopy using synchrotron x-ray beam focused Kirkpatrick-Baez mirrors
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使用同步加速器X射线束聚焦柯克帕特里克-贝兹镜的高分辨率衍射显微镜的开发和应用
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K.Yamauchi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y.Takahashi;Y.Nishino;R.Tsutsumi;H.Kubo;H.Furukawa;H.Mimura;S.Matsuyama;N.Zettsu;T.Ishikawa;K.Yamauchi
