Strain-stability of dielectric property in Bi-Zn-Nb-O films
Strain-stability of dielectric property in Bi-Zn-Nb-O films
复制标题
Bi-Zn-Nb-O 薄膜介电性能的应变稳定性
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Rikyu Ikariyama and Tomoaki Yamada
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Hiroshi Funakubo;Shingo Okaura;andMuneyau Suzuki;Hiroshi Uchida and Seiichiro Koda;Rikyu Ikariyama and Tomoaki Yamada
