Detection of Defects on the Inner Surface of the Thick-Walled Pipe by Means of Direct Current Potential Drop Technique
Detection of Defects on the Inner Surface of the Thick-Walled Pipe by Means of Direct Current Potential Drop Technique
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直流电势降技术检测厚壁管内表面缺陷
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K.Kadokawa)
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H.Tohmyoh;(M.Saka;S.Kanayama;K.Sakomizu;T.Sato;K.Kadokawa)
