DRAM Retention Behavior with Accelerated Aging in Commercial Chips
DRAM Retention Behavior with Accelerated Aging in Commercial Chips
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商用芯片中加速老化的 DRAM 保留行为
DOI：
10.3390/app12094332
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Rahman, Md Tauhidur
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Bepary, Md Kawser;Talukder, Bashir Mohammad;Rahman, Md Tauhidur
