T.Goto and K.Hane: "Tapping mode scanning capacitance microscopy : feasibility of guantitative Capacitance measurement" Optoelectronics'97,Proc.SPIE. 3009. 84-91 (1997)
T.Goto and K.Hane: "Tapping mode scanning capacitance microscopy : feasibility of guantitative Capacitance measurement" Optoelectronics'97,Proc.SPIE. 3009. 84-91 (1997)
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T.Goto 和 K.Hane：“轻敲模式扫描电容显微镜：定量电容测量的可行性”Opto electronics97，Proc.SPIE。
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