MEG実験2009 陽電子スペクトロメータの性能評価
MEG実験2009 陽電子スペクトロメータの性能評価
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MEG实验2009 正电子能谱仪性能评价
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y.Fujii
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M. Ushio;L. Stawarz;T. Takahashi;D. Paneque;G. Madejski;M. Hayashida;J. Kataoka;Y. Tanaka;T. Tanaka;M. Ostrowski;有田伸;鈴木宏聡;Y.Fujii
