NBTI 机制下运算放大器的性能退化分析及可靠性设计

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DOI:
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发表时间:
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期刊:
电子器件
影响因子:
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通讯作者:
石艳玲
石艳玲
中科院分区:
其他
文献类型:
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作者:
花修春;李小进;石艳玲

文献摘要

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